挑战
在战斗中,士兵的生命可能取决于电子或射频产品的设计和测试水平。设备在极端温度下、物理冲击后、电池电量不足的情况下是否能正常工作?它会在哪里损坏或失效?我们如何才能防止这种情况发生?
Averna 的一家客户需要一种从头开始的方法来测试两个关键设备的顶层组件 (TLA) 和电路卡组件 (CCA),以确保它们达到或超过规格要求,并且不会在现场出现故障。

5
测试站类型
12
不同的可互换智能灯具
180
测试用例
2200
每个受测单位的结果

解决方案
在项目开始时,Averna 提供咨询和分析专业知识,包括测试设计 (DFT) 和制造设计 (DFM),以简化产品设计并消除潜在的功能或装配缺陷。
与此同时,Averna 还在系统和网络架构、仪器选择和测试代码方面开展合作,并设计和建造了多个灵活的 ATE,用于功能、信息和通信技术、环境、装配和维修等测试。
ATE 有多个夹具(包括自校准夹具),可根据不同的产品进行更换。先进的测试数据管理系统可自动收集、集中和汇总测试结果,并通过数十种基于网络的制造报告和图表提供这些结果。